芯片内建沟道退化监测单元电路设计与测试规范Designandtestspecificationofbuilt-inchanneldegradationmonitoringunitcircuitinchip

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标准规范
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ICS31.200CCS L56TCASME团体标准T/CASME XXX-2025芯片内建沟道退化监测单元电路设计与测试规范Design and test specification of built-in channel degradation monitoringunit circuit in chip(征求意见稿)2025-XX-XX发布2025-Xx-XX实施中国中小商业企业协会发布
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